电路中贴片电容的损耗和频率特性

在电子元器件中任何东西都有老化和损耗的现象，贴片电容也不例外，而贴片电容的损耗是指在电场的作用下,贴片电容在单位时间内发热而消耗的能量。这些损耗主要来自介质损耗和金属损耗。通常用损耗角正切值来表示。 贴片电容的频率特性是贴片电容器电参数随电场频率而变化的性质。在高频条件下工作的贴片电容,由于介电常数在高频时比低频时小，电容量也相应减小。损耗也随频率的升高而增加。 另外,在高频工作时,贴片电容的分布参数,如极片电阻、引线和极片间的电阻、极片的自身电感、引线电感等,都会影响贴片电容的性能。 所有这些,使得贴片电容的使用频率受到限制。不同品种的电容器,高使用频率不同。小型云母电容器在250MHZ以内，圆片型瓷介电容器为300MHZ，圆管型瓷介电容器为200MHZ，圆盘型瓷介可达3000MHZ，小型纸1个电容器为80MHZ，中型纸介电容器只有8MHZ.

导致陶瓷贴片电容失效的三大因素

一、陶瓷介质内空洞 导致陶瓷贴片电容空洞产生的主要因素为陶瓷粉料内的有机或无机污染，烧结过程控制不当等。空洞的产生极易导致漏电，而漏电又导致器件内部局部发热，进一步降低陶瓷介质的绝缘性能从而导致漏电增加。该过程循环发生，不断恶化，严重时导致多层陶瓷电容器开裂、爆炸，甚至燃烧等严重后果。 二、烧结裂纹 陶瓷贴片电容烧结裂纹常起源于一端电极，沿垂直方向扩展。主要原因与烧结过程中的冷却速度有关，裂纹和危害与空洞相仿。 三、分层 陶瓷贴片电容的烧结为多层材料堆叠共烧。烧结温度可以高达1000℃以上。层间结合力不强，烧结过程中内部污染物挥发，烧结工艺控制不当都可能导致分层的发生。分层和空洞、裂纹的危害相仿，为重要的多层陶瓷电容器内在缺陷。-----X5R介质高压贴片电容的性能参数X5R介质的高压贴片电容是在电子整机中的耦合、旁路、针对及滤波的作用。因为它有较高的介电常数，常用于生产比容较大、标称容量较高的大容量电容器产品。X5R介质的高压贴片电容具有较高的介电常数，但其容量稳定性较X7R，容量、损耗对温度、电压等测试条件较敏感，主要用在电子整机中的振荡、耦合、滤波及傍路电路中。 优点：封装体积小,质量稳定，绝缘性能高，耐高压。 缺点:容量较小，目前大100UF，易于被脉冲电压击穿。 性能参数：1.材质NPO(COG).X7R.X5R.Y5V 2.容量0.1PF-100PF-1NF-1UF-100UF3.电压6.3V-100V-1KV-2KV-5KV4.封装0201-0805-06-18-2225X5R介质的高压贴片电容应用范围：产品广泛用于模块电源、汽车电子，通讯电源，LED照明电源等领域，有着广阔的应用发展前景.