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产品名称: 中山贴片电容-高压安规电容经销商-保沃电子
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更新日期: 2021年05月04日,有效期:360天
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钽电容器的材料与封装

CV/g的增加与粉末粒度的减小和粉末纯度的提高有关。将这些材料用于电容设计是一个复杂的研究领域,需要大量的研发投入。降低钽电容器设计尺寸的另一个重要因素是高效封装技术的发展。行业中常用的封装技术是铅框架设计。这种结构具有很高的制造效率,可以降低成本和提高生产能力。对于不受空间限制的应用,这些设备仍然是可行的解决方案。VishayMAP结构的另一个好处是减少了ESL。通过小化电流环,ESL可以显著减少。 CV/g的增加与粉末粒度的减小和粉末纯度的提高有关。将这些材料用于电容设计是一个复杂的研究领域,需要大量的研发投入。降低钽电容器设计尺寸的另一个重要因素是高效封装技术的发展。行业中常用的封装技术是铅框架设计。这种结构具有很高的制造效率,可以降低成本和提高生产能力。对于不受空间限制的应用,这些设备仍然是可行的解决方案。 然而,在许多以提高密度为主要设计标准的电子系统中,能够减小元件尺寸是一个重要的优势。在这方面,制造商在包装技术方面取得了一些进展。与标准引线框架结构相比,无铅框架设计可以提高体积效率。通过减少提供外部连接所需的机械结构的尺寸,这些设备可以利用额外的可用空间来增加电容器元件的尺寸,从而增加电容值和/或电压。 在新一代封装技术中,Vishay的专利多阵列封装(MAP)结构通过在封装末端使用金属化层来提供外部连接,从而进一步提高了体积效率。该结构通过完全消除内部阳极连接,使电容元件在现有体积范围内的尺寸大化。为了进一步说明体积效率的提高,电容元件的体积增加了60(百分比)以上。这一增加可用于优化设备以增加电容和/或电压,降低DCL,并提高可靠性。 VishayMAP结构的另一个好处是减少了ESL。MAP结构可以通过消除环封装的机械引线框架来显着地减小现有电流环的大小。通过小化电流环,ESL可以显著减少。与标准引线框架结构相比,ESL的减少可高达30(百分比)。ESL的减少对应于自谐振频率的增加,这可以扩大电容的工作频率范围。

电解电容的寿命影响因素

电容器内部热传导的设计对电容器的稳定性和使用寿命至关重要。采用带电极的酚醛塑料盖和双层专用密封垫,可大大降低电解液的损耗。电解液通过垫片的蒸发决定了长寿命电解电容器的工作时间。所设计的双密封系统可以减缓电解液的蒸发速度,使电容器达到长的使用寿命。这些特性保证了电容器在所需磁场中具有较长的工作寿命。 通过电容器芯包与铝壳底部良好的机械接触,并通过芯包中间的散热片,将电容器的内部热量有效地从铝壳底部释放到连接的底板上。电容器内部热传导的设计对电容器的稳定性和使用寿命至关重要。在设计中,负极铝箔延伸到电容器铝壳的底部厚度。热阱的底部可以释放出热阱。通过将电容器安全地安装在基板(通常是铝板)上,可以获得更全面的低热阻导热解决方案。采用带电极的酚醛塑料盖和双层专用密封垫,可大大降低电解液的损耗。 电解液通过垫片的蒸发决定了长寿命电解电容器的工作时间。当电解液蒸发到一定程度时,电容器将失效(这一结果将因内部温度升高而加速)。所设计的双密封系统可以减缓电解液的蒸发速度,使电容器达到长的使用寿命。这些特性保证了电容器在所需磁场中具有较长的工作寿命。 根据寿命公式可知,影响寿命的应用因素有:纹波电流IRMS、环境温度TA和热点向周围环境传递的总热阻。纹波电流纹波电流直接影响电解电容器内部热点温度。纹波电流的允许范围可查阅电解电容器说明书。如果超出范围,可以并行求解。

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