电解电容寿命的相关因素

电容器在过电压条件下容易发生故障，但实际应用中常出现浪涌电压和瞬时高压。特别是我国幅员辽阔，电网复杂。因此，交流电网非常复杂，经常超过正常电压30，尤其是单相输入。相位偏移会加剧交流输入的正常范围。试验结果表明，在1.34倍额定电压下，常用的450v/470uf105℃进口普通电解电容器在2000小时内会发生液体和气体泄漏，顶部会爆裂。据统计分析，靠近电网的通信开关电源PFC输出电解电容器故障主要是由于电网浪涌和高压损坏。 电容器在过电压条件下容易发生故障，但实际应用中常出现浪涌电压和瞬时高压。特别是我国幅员辽阔，电网复杂。因此，交流电网非常复杂，经常超过正常电压30，尤其是单相输入。相位偏移会加剧交流输入的正常范围。试验结果表明，在1.34倍额定电压下，常用的450v/470uf105℃进口普通电解电容器在2000小时内会发生液体和气体泄漏，顶部会爆裂。据统计分析，靠近电网的通信开关电源PFC输出电解电容器故障主要是由于电网浪涌和高压损坏。一般情况下，电解电容器的电压降到额定值的80（百分比）。 除异常失效外，电解电容器的寿命与温度呈指数关系。由于采用非固态电解液，电解电容器的寿命也取决于电解液的蒸发速率，导致电解液的电学性能下降。这些参数包括电容、泄漏电流和等效串联电阻（ESR）。参考RIFA的预期寿命公式：Ploss=IRMS&Sup2xESR（1）th=TAPlossxrth（2）lop=a×2小时（3）B=参考温度值（典型85℃）a=电容器在参考温度下的寿命（随电容器直径的变化）C=将电容器寿命从上述公式中减半所需的温升次数，可以清楚地看到，影响电解电容器寿命的直接因素有：纹波电流IRMS和等效串联电阻（ESR）、环境温度（TA）和热点向周围环境传递的总热阻（RTH）。电容器内部温度高的点称为热点温度（th）。

薄膜电容的材料与结构

薄膜电容器常用于滤波器、积分、振荡和定时电路。然而，在大多数电子电路中，纸张和薄膜电容器的电容一般小于1μF。高介电常数的低频单石电容器性能稳定，体积小，容量误差大，常用于噪声旁路、滤波、积分和振荡电路。陶瓷电容器被挤压成高介电常数电容器的管、盘或盘，陶瓷上镀银作为电极，可分为高频陶瓷介质和低频陶瓷介质。 薄膜电容器的结构与纸电容器相似，但当用聚丙烯、聚苯乙烯、聚碳酸酯和聚酯代替纸张作为介质时，薄膜电容器的频率特性好、介电损耗小、稳定性好、漏电流小，但不能产生大容量、不同的薄膜材料特性。薄膜电容器常用于滤波器、积分、振荡和定时电路。然而，在大多数电子电路中，纸张和薄膜电容器的电容一般小于1μF。 许多塑料薄膜电容器使用金属化电极板，这些电容器带有金属薄膜，金属板直接沉淀在薄膜上。这样，两个电极之间的距离可以尽可能小，这样电容器就可以更小、更紧凑。 单石电容器是一种体积小、容量大、可靠性高、耐高温的新型电容器，它在几块陶瓷薄膜坯上涂上粘贴电极材料，一次成一个不可分割的整体。高介电常数的低频单石电容器性能稳定，体积小，容量误差大，常用于噪声旁路、滤波、积分和振荡电路。 陶瓷电容器被挤压成高介电常数电容器的管、盘或盘，陶瓷上镀银作为电极，可分为高频陶瓷介质和低频陶瓷介质。陶瓷电容器具有较小的正电容温度系数，用于高稳定振荡电路。小容量(小于0.1μF)的陶瓷是常见的介电材料，常见的陶瓷电容器是圆形陶瓷电容器。