自恢复熔断器主要是以经过特殊处理的聚酯（聚合物）为基础，掺入导体（如碳）。电流流过自恢复熔断器在线路上产生的热量很小，不会改变聚合树酯的晶体结构，使电路保持低阻导通。而当电流急剧增加时，自恢复熔断器的温度也会在很短的时间内迅速上升。回路中仍会保持一定的电流值，这将使PTC保持发热状态，并维持高阻状态。过流故障消除后，温度降低，导体键合重新建立，PTC自动恢复为低阻抗导体。 4自恢复熔断器主要是以经过特殊处理的聚酯（聚合物）为基础，掺入导体（如碳）。通常情况下，聚酯将导体颗粒紧密地结合在晶体结构上，形成一种低阻抗（几毫克到几十毫克）的结合。电流流过自恢复熔断器在线路上产生的热量很小，不会改变聚合树酯的晶体结构，使电路保持低阻导通。而当电流急剧增加时，自恢复熔断器的温度也会在很短的时间内迅速上升。过高的温度会使聚酯由晶体变成胶体。此时结合在聚酯上的导体会被分离，阻抗会迅速增大，回路的电流会迅速减小，达到保护的目的。如果电路电流变小后，过电流的故障仍未消除，说明过电流的故障还没有消除。回路中仍会保持一定的电流值，这将使PTC保持发热状态，并维持高阻状态。过流故障消除后，温度降低，导体键合重新建立，PTC自动恢复为低阻抗导体。"。 自恢复熔断器的保护动作时间是衡量其好坏的一个重要参数。该参数与其内部电阻、环境温度和运行前流过的电流有关。环境温度越高，内阻或电流越大，温度升高越快，保护作用越快。

M失效分为内部因素和外部因素，M内部或外部如存在各种微观缺陷，都会直接影响到M产品的电性能、可靠性，给产品质量带来严重的隐患。 内部因素：空洞、裂纹、分层 1.陶瓷介质内空洞 导致空洞的主要原因是陶瓷粉料内的有机或无机污染，烧结过程控制不当等。空洞的产生会导致漏电，而漏电又导致器件内部发热，进一步降低陶瓷介质的结缘性能从而导致漏电增加。该过程循环发生，不断恶化，严重时导致多层陶瓷电容开裂，爆炸，甚至燃烧等严重后果。 2.烧结裂纹 烧结裂纹常起源于一端电极，沿垂直方向扩展，主要原因与烧结过程中的冷却速度有关裂纹和危害与空洞相仿。 3.分层 多层陶瓷电容器的烧结为多层材料堆叠共烧。烧结温度可以高达1000°C以上。层间结合力不强，烧结的过程中内部污染物挥发，烧结工艺控制不当都有可能导致分层的发生。分层和空间、裂纹的危害相仿，为重要的多层陶瓷电容器内在缺陷。 检测方法： 超声波探伤方法能够更 地检测出M内部的缺陷，并且能够确定缺陷的位置，进一步的磨片分析，对于发现有内部缺陷的产品则采用整批报废处理，表明了超声波探伤方法在M的内部缺陷的检测、判定上有效性和可靠性。 外部因素：裂纹 1.温度冲击裂纹：主要是由于器件在焊接的时候，波峰焊时承受温度冲击所致，不当返修也是受较大的导致温度冲击裂纹的重要原因。 2.机械应力裂纹 M的特点是能够承受较大的压应力，但抵抗弯曲能力比较差。器件组装过程中任何可能产生弯曲的操作都可能导致器件开裂。 检测方法： 对于外部缺陷通常采用显微镜下人工目测法或者自动外观分选设备。